Estudio de inestabilidades en estructuras MOS con dieléctricos nanométricos de alto K
By: Sambuco Salomone, Lucas Ignacio
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Contributor(s): Lipovetzky, José [Co-Director]
| Faigón, Adrián Néstor [Director]
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Biblioteca Central Consulta | Biblioteca Central Consulta | T 1828 (Browse shelf) | Available | 36281 |
Resumen al final de cada capítulo
Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011
Bibliografía p.197-215