Sambuco Salomone, Lucas Ignacio
Estudio de inestabilidades en estructuras MOS con dieléctricos nanométricos de alto K - 2011 - x, 215 p. : gráfs., tablas ; 30 cm
Resumen al final de cada capítulo
Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011
Bibliografía p.197-215
CARACTERIZACION
MATERIALES COMPUESTOS LAMINADOS
MATERIALES NANOESTRUCTURADOS
DIELECTRICOS
DISPOSITIVOS MOS
ALUMINA COMPUESTOS DE HAFNIO INESTABILIDAD
Estudio de inestabilidades en estructuras MOS con dieléctricos nanométricos de alto K - 2011 - x, 215 p. : gráfs., tablas ; 30 cm
Resumen al final de cada capítulo
Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011
Bibliografía p.197-215
CARACTERIZACION
MATERIALES COMPUESTOS LAMINADOS
MATERIALES NANOESTRUCTURADOS
DIELECTRICOS
DISPOSITIVOS MOS
ALUMINA COMPUESTOS DE HAFNIO INESTABILIDAD