Sambuco Salomone, Lucas Ignacio

Estudio de inestabilidades en estructuras MOS con dieléctricos nanométricos de alto K - 2011 - x, 215 p. : gráfs., tablas ; 30 cm

Resumen al final de cada capítulo

Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011

Bibliografía p.197-215


CARACTERIZACION
MATERIALES COMPUESTOS LAMINADOS
MATERIALES NANOESTRUCTURADOS
DIELECTRICOS
DISPOSITIVOS MOS

ALUMINA COMPUESTOS DE HAFNIO INESTABILIDAD
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Gestión y mantenimiento Lic. Marcos Benincasa