Estudio de inestabilidades en estructuras MOS con dieléctricos nanométricos de alto K
By: Sambuco Salomone, Lucas Ignacio.
Contributor(s): Lipovetzky, José [Co-Director] | Faigón, Adrián Néstor [Director].
Material type: BookPublisher: 2011Description: x, 215 p. : gráfs., tablas ; 30 cm.Subject(s): CARACTERIZACION | MATERIALES COMPUESTOS LAMINADOS | MATERIALES NANOESTRUCTURADOS | DIELECTRICOS | DISPOSITIVOS MOS | ALUMINA | COMPUESTOS DE HAFNIO | INESTABILIDADOther classification: T 1828 Dissertation note: Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011Item type | Current location | Home library | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
Tesis de Grado y Posgrado | Biblioteca Central Consulta | Biblioteca Central Consulta | T 1828 (Browse shelf) | Available | 36281 |
Resumen al final de cada capítulo
Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011
Bibliografía p.197-215