Estudio de inestabilidades en estructuras MOS con dieléctricos nanométricos de alto K
By: Sambuco Salomone, Lucas Ignacio
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Contributor(s): Lipovetzky, José [Co-Director] | Faigón, Adrián Néstor [Director].
Material type: 
BookPublisher: 2011Description: x, 215 p. : gráfs., tablas ; 30 cm.Subject(s): CARACTERIZACION | MATERIALES COMPUESTOS LAMINADOS | MATERIALES NANOESTRUCTURADOS | DIELECTRICOS | DISPOSITIVOS MOS | ALUMINA | COMPUESTOS DE HAFNIO | INESTABILIDADOther classification: T 1828 Dissertation note: Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011
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Tesis de Grado y Posgrado
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Biblioteca Central Consulta | Biblioteca Central Consulta | T 1828 (Browse shelf) | Available | 36281 |
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Resumen al final de cada capítulo
Tesis de grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2011
Bibliografía p.197-215
