Reducción de perturbaciones y artefactos en EEG capacitivo
By: Cuomo, Joaquin M
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Contributor(s): Lew, Sergio (Eduardo) [Director]
| Zanutto, Bonifacio Silvano [Jurado]
| Schilling, Mainhard [Co-Director]
| Arini, Pedro David [Jurado]
| Caiafa, César Federico [Jurado]
| Yorio, Alberto Andrés [Jurado]
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Material type: ![materialTypeLabel](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
![](/opac-tmpl/bootstrap/images/filefind.png)
![](/opac-tmpl/bootstrap/images/filefind.png)
![](/opac-tmpl/bootstrap/images/filefind.png)
![](/opac-tmpl/bootstrap/images/filefind.png)
![](/opac-tmpl/bootstrap/images/filefind.png)
Item type | Current location | Home library | Call number | Status | Date due | Barcode |
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![]() |
Biblioteca Central Consulta | Biblioteca Central Consulta | T 1886 (Browse shelf) | Available | 40843 |
Calificación: 10 (sobresaliente)
Lugar de trabajo: Instituto anfitrión Institut für Eñektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, Universidad Técnica de Braunschweig, Alemania, a cargo del Prof. Dr. rer. nat. M. Schilling
Tesis de Grado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBA.FI, 2014
Referencias bibliográficas: pp. 93-98