Ziel, Aldert van der <br/><br/>
Noise in measurements /  
Aldert van der Ziel 
 - Nueva York :   John Wiley & Sons,   1976 
 - 228 p. :   fig. ;   24 cm 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0471898953 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>ELECTROTECNIA<br/>ERRORES DE MEDIDA<br/>ANALISIS DE FOURIER
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.137