Integración en un proceso CMOS de un dosímetro basado en transistores de óxido de campo /
By: Echarri, Martin
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Contributor(s): Lipovetzky, José [Director] | Carbonetto, Sebastián Horacio [Co-Director] | Faigón, Adrián Néstor [Jurado] | García Inza, Mariano [Jurado] | Golmar, Federico [Jurado].
Material type: 
BookPublisher: [2014]Description: 96 p. : Gráfs., fotos col. ; 30 cm.Subject(s): DOSIMETROS | RADIACION IONIZANTE | DISPOSITIVOS MOSFET | TRANSISTORES DE EFECTO DE CAMPO | AMPLIFICADORES OPERACIONALES | DISEÑO DE CIRCUITOS IMPRESOS | EFECTOS DE LAS RADIACIONES | ERRORES DE MEDIDA | CORRECCION DE ERRORESOther classification: E182 Dissertation note: Tesis -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBA.FI, 2014
| Item type | Current location | Home library | Call number | Status | Notes | Date due | Barcode |
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Tesis de Grado y Posgrado
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Biblioteca Central Consulta | Biblioteca Central Consulta | T 1932 (Browse shelf) | Available | Anillado | 41105 |
Calificación: 10 (diez) sobresaliente
Tesis -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBA.FI, 2014
Bibliografía p. 95
