Efectos de la radiación ionizante en dispositivos MOS. Aplicación a dosimetría
By: Lipovetzky, José
.
Contributor(s): Santiago, Guillermo D [Jurado] | Castelli, Eduardo [Jurado] | Alurralde, Martín Alejo [Jurado] | Faigón, Adrián Néstor [Director].
Material type: 
BookPublisher: 2010Description: viii, 126 p. : gráfs. ; 30 cm.Subject(s): CALIBRADO | DOSIMETROS | DISPOSITIVOS MOS | EFECTOS DE LAS RADIACIONES | RADIACION IONIZANTEOther classification: T 1764 Dissertation note: Tesis de Doctorado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2010
| Item type | Current location | Home library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
Tesis de Grado y Posgrado
|
Biblioteca Central Consulta | Biblioteca Central Consulta | T 1764 (Browse shelf) | Available | 35671 |
Browsing Biblioteca Central Shelves , Shelving location: Consulta Close shelf browser
Lugar de trabajo: Laboratorio de Física en Dispositivos-Microelectrónica, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería - UBA, en el marco de la beca Doctoral Peruilh FIUBA
Apéndice con listado de publicaciones periódicas relacionadas con esta tesis
Referencias bibliográficas
Resumen en inglés y español
Tesis de Doctorado -- Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. UBAFI, 2010
